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高效颗粒空气过滤器在半导体洁净室中的应用与性能分析



高效颗粒空气过滤器在半导体洁净室中的应用与性能分析 引言 随着集成电路(IC)制造工艺不断向纳米级推进,半导体生产对环境洁净度的要求日益严苛。微小的尘埃颗粒、金属离子或有机污染物均可能导致芯片缺陷,降低良品率,甚至造成整批产品报废。为确保半导体制造过程中的高洁净度环境,高效颗粒空气过滤器(High-Efficiency Particulate Air Fil…

高效颗粒空气过滤器在半导体洁净室中的应用与性能分析

引言

随着集成电路(IC)制造工艺不断向纳米级推进,半导体生产对环境洁净度的要求日益严苛。微小的尘埃颗粒、金属离子或有机污染物均可能导致芯片缺陷,降低良品率,甚至造成整批产品报废。为确保半导体制造过程中的高洁净度环境,高效颗粒空气过滤器(High-Efficiency Particulate Air Filter, 简称HEPA)被广泛应用于洁净室空气净化系统中。尤其在Class 1至Class 100级别的洁净室(ISO Class 3–5),HEPA过滤器作为核心净化设备,发挥着不可替代的作用。

本文将系统探讨高效颗粒空气过滤器在半导体洁净室中的应用背景、工作原理、关键性能参数、选型标准、实际运行案例以及国内外研究进展,并结合权威文献与行业数据,全面分析其在保障半导体制造环境中的技术优势与挑战。


一、HEPA过滤器的基本原理与分类

1.1 HEPA过滤机制

高效颗粒空气过滤器通过物理拦截、惯性碰撞、扩散效应和静电吸附等多种机制去除空气中悬浮的微粒。其主要过滤机制包括:

  • 拦截作用:当粒子随气流运动时,若其路径接近纤维表面,可能因接触而被捕获。
  • 惯性碰撞:较大粒子因质量大,在气流方向改变时无法及时跟随,撞击纤维被捕集。
  • 扩散效应:对于亚微米级粒子(<0.1 μm),布朗运动显著增强,使其更易与纤维接触并被捕获。
  • 静电吸附:部分HEPA滤材带有静电,可增强对微小带电粒子的捕获能力。

根据美国能源部标准DOE-STD-3020-97及国际标准ISO 29463,HEPA过滤器需对粒径≥0.3 μm的颗粒实现至少99.97%的过滤效率。

1.2 HEPA与ULPA的区别

在半导体行业中,除HEPA外,超高效颗粒空气过滤器(ULPA, Ultra-Low Penetration Air Filter)也被广泛应用。两者主要区别如下表所示:

参数 HEPA过滤器 ULPA过滤器
标准依据 IEST-RP-CC001, ISO 29463 H13-H14 ISO 29463 U15-U17
过滤效率(0.3 μm) ≥99.97% ≥99.999%
对应穿透率 ≤0.03% ≤0.001%
典型应用场景 Class 100(ISO 5)洁净室 Class 10及以下(ISO 4–3)洁净室
初始阻力(Pa) 180–250 220–300
使用寿命(年) 3–5 2–4

数据来源:IEST (Institute of Environmental Sciences and Technology), 2021; GB/T 13554-2020《高效空气过滤器》

ULPA过滤器适用于光刻、蚀刻等对洁净度要求极高的工艺环节,而HEPA则多用于一般洁净区域或作预过滤使用。


二、半导体洁净室的环境要求

2.1 洁净室等级标准

国际通用的洁净室分级标准由ISO 14644-1定义,其依据单位体积空气中允许的最大粒子浓度划分等级。半导体制造通常要求达到ISO Class 3至Class 5级别。

ISO等级 最大允许粒子数(≥0.1 μm)/m³ 典型应用
ISO 3 1,000 EUV光刻、晶圆搬运
ISO 4 10,000 薄膜沉积、离子注入
ISO 5 100,000 扩散、清洗、包装
ISO 6 1,000,000 设备维护区

参考:ISO 14644-1:2015《洁净室及相关受控环境 第1部分:按粒子浓度分级》

以台积电5nm制程为例,其前段工艺洁净室普遍维持在ISO Class 3水平,要求每立方米空气中0.1 μm以上颗粒不超过1000个,这对HEPA/ULPA系统的稳定性提出了极高要求。

2.2 半导体制造中的污染源

半导体洁净室的主要污染源包括:

  • 人员活动产生的皮屑、纤维;
  • 工艺设备运行时释放的挥发性有机物(VOCs)与金属蒸气;
  • 建筑材料老化脱落的微粒;
  • 外部新风携带的PM2.5、花粉等。

据清华大学洁净技术研究中心(2022)研究显示,在未配备高效过滤系统的洁净室内,人员行走一次可产生超过10⁶个≥0.3 μm的颗粒。因此,高效的空气过滤系统是控制这些污染的关键手段。


三、HEPA过滤器的关键性能参数

3.1 主要技术指标

为评估HEPA过滤器在半导体洁净室中的适用性,需关注以下核心参数:

参数 定义 测试标准 典型值范围
过滤效率 对特定粒径颗粒的去除率 DOP法(0.3 μm)或PSL法 H13: ≥99.97%
H14: ≥99.995%
初始阻力 新滤芯在额定风量下的压降 EN 779 / ISO 5011 180–250 Pa
终阻力 更换前最大允许压降 同上 450–600 Pa
额定风量 设计通过风量(m³/h) 用户定制 500–2000 m³/h
容尘量 可容纳颗粒总量(g) JIS Z 8122 300–800 g
泄漏率 局部泄漏允许值 扫描法(MPPS点) ≤0.01% per filter

数据来源:中国建筑科学研究院《洁净厂房设计规范》GB 50073-2013;Camfil AB Technical Report, 2020

其中,最易穿透粒径(Most Penetrating Particle Size, MPPS)是衡量HEPA性能的核心指标。研究表明,HEPA滤材对0.1–0.3 μm颗粒的过滤效率最低,因此测试常以此区间为基准。

3.2 材料与结构类型

HEPA过滤器通常采用超细玻璃纤维(Glass Fiber)作为滤料,具有耐高温、化学稳定性好等特点。常见结构形式包括:

  • 有隔板型:使用铝箔或纸板分隔滤纸,褶距均匀,容尘量大,适合大风量系统。
  • 无隔板型:采用热熔胶固定波形滤纸,体积小、重量轻,适用于空间受限场合。
结构类型 优点 缺点 适用场景
有隔板HEPA 高容尘、长寿命 体积大、成本高 大型FFU系统
无隔板HEPA 紧凑、低阻力 容尘略低 Mini-environment、SMIF Pod

引用:张伟等,《洁净室用高效过滤器结构优化研究》,《暖通空调》,2021年第51卷第6期


四、HEPA在半导体洁净室中的典型应用模式

4.1 FFU(Fan Filter Unit)系统集成

在现代半导体洁净室中,HEPA过滤器多以风机过滤单元(FFU)形式安装于天花板,形成垂直单向流(Vertical Laminar Flow)。FFU集成了风机、预过滤器、HEPA/ULPA模块和控制系统,具备独立调控风速的能力。

典型FFU配置参数如下:

项目 参数
尺寸(mm) 1200×600 或 1200×1200
风量(m³/h) 800–1200
静压(Pa) 120–150
噪音(dB) <55
控制方式 RS485/Modbus联网控制
过滤等级 H14或U15

数据来源:AAF International Product Catalogue, 2023

三星电子平泽工厂在其7nm产线中部署了超过2万台FFU,构成全覆盖式层流系统,确保晶圆表面颗粒污染密度低于0.01 particles/cm²/h(Lee et al., Journal of Semiconductor Technology, 2020)。

4.2 局部净化装置

除整体洁净室外,许多关键工艺设备(如光刻机、CVD反应腔)配备微环境系统(Mini-environment),内部集成ULPA过滤器,形成局部ISO Class 1环境。例如ASML的NXE:3400B EUV光刻机,其晶圆传输通道内空气经三级过滤(G4+F8+U15),确保光学元件免受污染。

此外,SMIF(Standard Mechanical Interface)Pod也内置HEPA循环系统,可在开盖瞬间维持内部洁净度,防止晶圆暴露于主洁净室空气中。


五、国内外主流HEPA产品对比分析

下表列举了全球及中国主要厂商的代表性HEPA产品性能参数:

品牌 型号 过滤等级 初始阻力(Pa) 额定风量(m³/h) 适用标准 国别
Camfil Hi-Flo ES H14 190 900 ISO 29463 瑞典
Donaldson Ultra-Web Z H13 175 850 ASME N509 美国
AAF FX-MAX H14 210 1000 GB/T 13554 美国(中国生产)
苏州亚夫 YF-HEPA-1200 H14 200 950 GB/T 13554-2020 中国
深圳金田豪 JTH-ULPA U15 240 800 ISO 29463 中国

数据整理自各公司官网技术手册(2023年更新)

从性能上看,欧美品牌在滤材均匀性、密封性和长期稳定性方面仍具优势,但国产HEPA近年来进步显著。据中国电子学会洁净技术分会统计,2022年中国本土HEPA在新建半导体项目中的市场占有率已达42%,较2018年的18%大幅提升(《中国洁净产业白皮书》,2023)。


六、HEPA系统运行维护与性能监测

6.1 性能衰减因素

HEPA过滤器在长期运行中会因以下原因导致性能下降:

  • 积尘堵塞:颗粒堆积增加阻力,降低风量;
  • 湿度影响:高湿环境可能导致玻璃纤维吸水变形;
  • 机械损伤:安装不当或振动引发滤纸破损;
  • 微生物滋生:在温湿条件下可能滋生真菌,影响空气质量。

日本东京工业大学的一项研究表明,当HEPA阻力上升至初始值的1.8倍时,其过滤效率可能下降0.5%以上(Tanaka et al., Indoor Air, 2019)。

6.2 在线监测技术

为实时掌握HEPA状态,现代洁净室普遍采用以下监测手段:

  • 压差传感器:监测初效、中效与HEPA之间的压差变化,判断堵塞程度;
  • 粒子计数器:定期扫描下游粒子浓度,验证过滤效率;
  • 气溶胶光度计:使用DOP或PAO发生器进行泄漏测试,精度可达0.001%;
  • 智能FFU系统:集成IoT模块,远程监控风速、能耗与故障报警。

根据SEMI F57标准,半导体洁净室应每6个月进行一次完整的HEPA泄漏扫描,确保无局部穿孔或密封失效。


七、前沿技术发展与挑战

7.1 新型滤材研发

传统玻璃纤维存在脆性大、不可降解等问题。近年来,国内外学者致力于开发新型复合滤材:

  • 纳米纤维涂层:在基材表面电纺聚丙烯腈(PAN)或聚乳酸(PLA)纳米纤维,提升对<0.1 μm颗粒的捕获能力(Zhang et al., ACS Nano, 2021);
  • 石墨烯增强滤纸:利用石墨烯的高比表面积与抗菌特性,延长使用寿命(中科院苏州纳米所,2022);
  • 驻极体材料:通过电晕充电使滤材持久带电,增强静电吸附效应,已在部分ULPA产品中应用。

7.2 智能化与节能趋势

随着“双碳”目标推进,HEPA系统的能耗问题受到关注。研究显示,洁净室空调系统占半导体工厂总能耗的40%以上,其中风机功耗占比达60%(IEA, 2022)。为此,行业正推动:

  • 变频FFU控制:根据洁净度需求动态调节风速,节能可达30%;
  • AI预测维护:基于历史数据预测滤网更换周期,避免过早更换造成浪费;
  • 热回收系统:在新风处理段加装热交换器,降低冷热负荷。

台积电南科厂区已试点AI驱动的洁净室管理系统,通过机器学习优化FFU群控策略,年节电超过1200万度(TSMC Sustainability Report, 2023)。


八、典型案例分析:中芯国际北京12英寸厂

中芯国际在北京建设的12英寸逻辑芯片生产线,采用全HEPA覆盖的ISO Class 4洁净室,总面积达5万平方米。该项目选用AAF提供的H14级无隔板HEPA模块,共计安装FFU约1.5万台。

运行数据显示:

指标 实测值 标准要求
0.1 μm粒子浓度 8,200 #/m³ ≤10,000
平均风速(m/s) 0.38 0.35–0.45
FFU平均阻力 215 Pa <250 Pa
年更换率 3.2% <5%
晶圆缺陷密度 0.035 defects/cm² <0.05

数据来源:中芯国际工程技术部内部报告(2022)

该系统连续运行三年未发生重大污染事件,证明HEPA在大规模半导体生产中的可靠性。同时,通过引入智能监控平台,实现了对每一台FFU的实时状态追踪,大幅提升了运维效率。


九、国内外标准与认证体系

为确保HEPA产品质量,各国建立了严格的测试与认证体系:

国家/组织 标准名称 主要内容
中国 GB/T 13554-2020 高效空气过滤器性能测试方法
美国 DOE-STD-3020-97 HEPA过滤器设计与验收标准
欧盟 EN 1822:2009 分级至E10–U17,强调MPPS测试
国际 ISO 29463 统一全球HEPA/ULPA测试规范
日本 JIS Z 8122 规定扫描检漏程序

在中国,国家空调设备质量监督检验中心(NCLAC)负责HEPA产品的型式检验,所有进入半导体项目的过滤器必须提供第三方检测报告。


十、经济性与生命周期成本分析

尽管HEPA初期投资较高,但其在提升良率方面的回报显著。以一座月产5万片12英寸晶圆的Fab为例:

成本项 年费用(万元)
HEPA采购与安装 6,800
运行电费(FFU) 12,500
维护与更换 2,200
因污染导致的良率损失(无HEPA) ≈30,000
实际良率损失(配备HEPA) ≈3,000

数据估算基于行业平均值,参考Semiconductor Engineering, 2021

可见,HEPA系统每年可减少约2.7亿元的潜在损失,投资回收期不足一年。此外,随着国产化进程加快,HEPA单价较五年前下降约35%,进一步增强了其经济可行性。


参考文献

  1. ISO 14644-1:2015, Cleanrooms and associated controlled environments — Part 1: Classification of air cleanliness by particle concentration.
  2. GB/T 13554-2020, 《高效空气过滤器》. 中国标准出版社.
  3. Camfil. (2020). Technical Guide for HEPA Filtration in Critical Environments. Stockholm: Camfil AB.
  4. Lee, J., Kim, S., & Park, H. (2020). "Airborne Particle Control in Advanced Lithography Tools". Journal of Semiconductor Technology, 37(4), 112–119.
  5. Zhang, Y., et al. (2021). "Electrospun Nanofiber-Based Composite Filters for Sub-100 nm Particle Removal". ACS Nano, 15(3), 4567–4578.
  6. 中国电子学会. (2023). 《中国洁净产业年度发展报告》. 北京.
  7. IEA. (2022). Energy Efficiency in Semiconductor Manufacturing. International Energy Agency.
  8. TSMC. (2023). Sustainability Report 2022. Taiwan Semiconductor Manufacturing Company.
  9. Tanaka, M., et al. (2019). "Performance Degradation of HEPA Filters under High Humidity Conditions". Indoor Air, 29(2), 234–245.
  10. 张伟, 李强. (2021). "洁净室用高效过滤器结构优化研究". 《暖通空调》, 51(6), 88–93.

(全文约3,650字)

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Author: clsrich

 
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